1. ......................
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. A quadratic constraint approach to model predictive control of interconnected systems /
پدیدآورنده: Anthony Tri Tran C., Quang Ha.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Large scale systems.,Predictive control.,Artificial intelligence.,Automatic control engineering.,Communications engineering-- telecommunications.,Large scale systems.,Predictive control.,SCIENCE-- System Theory.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Operations Research.
رده :
TJ217
.
6
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Advances in large scale systems dynamics and control /
پدیدآورنده: edited by C.T. Leondes
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Control theory,Dynamics,Large scale systems,System analysis
![](/design/images/bookmore.png)
4. Advances in understanding engineered clay barriers
پدیدآورنده: / edited by Eduado E. Alonso & Alberto Ledesma
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: System analysis - Congresses,Large scale systems -- congresses
رده :
TA
402
.
I5A3
2003
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
5. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI /
پدیدآورنده: edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Computer-aided design,Expert systems (Computer science),Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing
رده :
TK7874
.
A416
1992
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
6. An artificial intellgence approach to VLSI routing
پدیدآورنده: Joobbani, Rostam.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Design and construction - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
J663
1986
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
7. An artificial intelligence approach to VLSI design
پدیدآورنده: / Thaddeus J. Kowalski
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration,Artificial intelligence,Expert systems (Computer science),Digital electronics
رده :
TK
7874
.
K675
1985
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
8. An artificial intelligence approach to VLSI routing
پدیدآورنده: Joobbani, Rostam.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
J663
1986
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
9. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
10. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
11. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
12. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
13. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
14. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
15. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder
موضوع : $AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
16. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
17. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
18. An artificial intelligence approxch to VLSI design
پدیدآورنده: Kowalski, Thaddeus J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration ، Integrated circuits,، Artificial intelligence,، Expert systems )Computer science(,، Digital electronics
رده :
TK
7874
.
K675
1985
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
19. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
20. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)